El Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) del Departamento de Comercio de EE. UU. ha publicado un informe que describe siete "grandes desafíos" estratégicos en medición, estandarización y modelado y simulación que, si se cumplen, fortalecerán la industria de semiconductores de EE. UU.

"Los desafíos de medición que afectan a la industria de semiconductores de EE. UU. se encuentran en una etapa crítica y deben abordarse si queremos garantizar el liderazgo de EE. UU. en este importante sector", dijo la subsecretaria de Comercio de Normas y Tecnología y directora del NIST, Laurie E. Locascio. "Hemos recibido una gran cantidad de comentarios de las partes interesadas de la industria, la academia y el gobierno que nos ayudarán a proporcionar servicios de medición, estándares, métodos de fabricación y bancos de pruebas que se necesitan con urgencia, y a construir asociaciones aún más sólidas con esta industria".

El NIST es el único laboratorio nacional dedicado a la ciencia de la medición, o metrología, y la Ley de ciencia y CHIPS promulgada recientemente insta al NIST a llevar a cabo investigación y desarrollo (I+D) de metrología crítica en apoyo de la industria nacional de semiconductores para permitir avances y avances para el próximo microelectrónica de generación. La metrología es necesaria en todas las etapas del desarrollo de la tecnología de semiconductores, desde la I+D básica y aplicada en el laboratorio hasta la demostración de la prueba de concepto, la creación de prototipos a escala, la fabricación en fábrica, el montaje y el empaquetado, y la verificación del rendimiento antes de la implementación final. A medida que los dispositivos se vuelven más pequeños y complejos, la capacidad de medir, monitorear, predecir y garantizar la calidad en la fabricación se vuelve mucho más difícil.

El informe publicado hoy se basa en los aportes recibidos a través de una serie de talleres de metrología de semiconductores convocados por NIST que reunió a más de 800 participantes de la industria, la academia y el gobierno. También se recopilaron aportes a través de una Solicitud de información del Departamento de Comercio y comentarios directos de la industria.

Seis de los siete grandes desafíos identificados se centran en lo siguiente:desarrollar metrología para la pureza y las propiedades de los materiales; futura fabricación de microelectrónica; embalaje avanzado para integrar componentes fabricados por separado; mejorar la seguridad de los dispositivos en toda la cadena de suministro; mejorar las herramientas para modelar y simular materiales, diseños y componentes semiconductores; y mejorar el proceso de fabricación. El desafío final destaca la necesidad de estandarizar nuevos materiales, procesos y equipos. + Explora más

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