Recientemente, Investigadores del Instituto de Óptica y Mecánica Fina de Shanghai (SIOM) de la Academia de Ciencias de China (CAS) han propuesto un nuevo método de medición del coeficiente electroóptico (EO) basado en el χ ⁽²⁾ tecnología óptica no lineal para medir los coeficientes EO lineales de KH ₂ correos ₄ (KDP) y K (H _{1 − x} D _X ) ₂ correos ₄ (DKDP) precisamente. Los resultados relevantes fueron publicados en Óptica Express el 18 de enero, 2021.

Los estudios y aplicaciones actuales del efecto EO de los cristales de la familia KDP se centran principalmente en KDP y DKDP con alto contenido de deuterio. Para los cristales de KDP parcialmente deuterados, sus coeficientes EO se informan esporádicamente, aunque tienen aplicaciones cruciales en muchos campos. Mientras tanto, los métodos de medición del coeficiente EO existentes se basan principalmente en el efecto óptico lineal, lo que requiere que el láser mantenga estrictamente la estabilidad de la polarización en todo el sistema de medición.

En este estudio, los investigadores presentaron un método novedoso utilizando el χ ⁽²⁾ tecnología óptica no lineal. Esta medida solo depende del proceso no lineal en materiales no lineales, y otros procesos de transferencia no lo afectarán.

Basado en este método, se midieron con precisión los coeficientes lineales de EO de una serie de diferentes cristales deuterados KDP, y se dio una fórmula de conclusión para determinar los coeficientes EO lineales de cristales de DKDP con diferente contenido de deuterio.

Es más, la estabilidad de la energía de salida de cuarta generación armónica (FHG) se puede mejorar en gran medida utilizando las propiedades EO de los cristales, que proporciona importantes referencias para la generación de láser ultravioleta profundo y amplía la aplicación de cristales de la familia KDP en el campo de la tecnología láser y la óptica no lineal.