A diferencia de las moléculas pequeñas, los polímeros se doblarán en cristales lamelares durante la cristalización y luego se ensamblarán en pilas lamelares.

La dispersión de rayos X de ángulo pequeño sincrotrón (SAXS) es una herramienta importante para caracterizar dicha estructura a nanoescala y comprender la cristalización de polímeros. Sin embargo, su mecanismo de dispersión en polímeros semicristalinos aún no está completamente aclarado.

Recientemente, un grupo de investigación dirigido por el profesor Tian Xingyou del Instituto de Física del Estado Sólido, Los Institutos de Ciencias Físicas de Hefei (HFIPS) propusieron un conjunto completo de nuevos métodos para caracterizar cristales laminares de polímero utilizando SAXS.

"Llevamos cuatro años trabajando en estos nuevos modelos, de la teoría a la aplicación, ", dijo Li Xiangyang de HFIPS.

En 2019, Los investigadores descubrieron por primera vez que era posible la dispersión inducida por ondas evanescentes en la transmisión SAXS. Es más, la dispersión inducida por ondas evanescentes fue mucho más fuerte que la dispersión inducida directamente por los rayos X incidentes, y la dispersión de electrones interfaciales en el interior fue el origen principal de la señal SAXS.

Usando estos enfoques, obtuvieron espesor laminar, período largo y tamaño lateral. "Basado en la nueva imagen de SAXS, aislamos la dispersión inducida por ondas evanescentes de la dispersión real y redujimos la influencia de la dispersión de electrones en masa, factor de forma y dispersión de Porod, obteniendo la información sobre espesor laminar y largo período, "dijo Li.

Se asumió que existían algunos cristales residuales en la masa fundida estructurada, cuyo tamaño lateral es mayor que el tamaño crítico de nucleación. Sin embargo, es difícil de confirmar debido a la dificultad de caracterización. Con las nuevas metodologías, los investigadores caracterizaron cristales residuales, demostrando su conjetura anterior.