1. Microscopía de fuerza piezorponse (PFM)
* Principio: Esta técnica utiliza una punta aguda para inducir y detectar la respuesta piezoeléctrica local en el material ferroeléctrico. Mide el desplazamiento de la punta debido al campo eléctrico generado por el dominio ferroeléctrico.
* ventajas: Alta resolución espacial, sensible a las estructuras de dominio locales.
* Limitaciones: Puede verse afectado por la topografía de la superficie, requiere equipos especializados.
2. Circuito de Tower Sawyer
* Principio: Este circuito mide el circuito de histéresis de un condensador ferroeléctrico. Aplica un campo eléctrico alterno al condensador y mide la polarización correspondiente.
* ventajas: Simple y ampliamente utilizado para materiales a granel.
* Limitaciones: No es adecuado para películas delgadas debido a la baja sensibilidad, requiere muestras macroscópicas.
3. Medición de circuito de campo eléctrico de polarización (P-E)
* Principio: Similar al circuito Sawyer-Tower pero con instrumentación más avanzada. Utiliza un electrómetro de alta precisión para medir la polarización de un condensador ferroeléctrico.
* ventajas: Mayor sensibilidad que el circuito de la torre de sawyer, adecuado para películas delgadas.
* Limitaciones: Requiere equipo especializado y una cuidadosa preparación de muestras.
4. Espectroscopía dieléctrica
* Principio: Esta técnica mide la constante dieléctrica del material en función de la frecuencia. Se puede utilizar para estudiar propiedades ferroeléctricas analizando la dependencia de frecuencia de la constante dieléctrica.
* ventajas: Proporciona información sobre las propiedades dieléctricas del material, adecuada para películas delgadas.
* Limitaciones: Requiere equipos y análisis especializados.
5. Segunda generación armónica (SHG)
* Principio: Esta técnica mide la respuesta óptica no lineal del material. Los ferroeléctricos exhiben una señal SHG fuerte debido a su estructura no centrosimétrica.
* ventajas: Sensible a la estructura del dominio ferroeléctrico, se puede usar para mediciones in situ.
* Limitaciones: Requiere equipo especializado y puede verse afectado por otros procesos ópticos no lineales.
6. Difracción de rayos X
* Principio: Los patrones de difracción de rayos X pueden revelar la estructura cristalina y la orientación del dominio del material ferroeléctrico.
* ventajas: Proporciona información sobre la estructura cristalina y la alineación del dominio.
* Limitaciones: Requiere equipo especializado y preparación de muestras.
Estas son solo algunas de las técnicas comunes utilizadas para medir la ferroelectricidad de las películas delgadas. La elección de la técnica depende de la aplicación específica y la información deseada.
