(Phys.org):un equipo de investigadores del Royal Institute of Technology, Estocolmo, la Universidad de Maryland, y el Centro NIST de Ciencia y Tecnología a Nanoescala han medido grandes variaciones en las propiedades magnéticas a lo largo del borde de un disco de película delgada de 500 nm de diámetro. Este trabajo representa un desarrollo significativo en la medición de las propiedades magnéticas del borde de la película delgada, que son especialmente importantes para los nanodispositivos, como las celdas de memoria magnética, donde la relación de borde a área es grande.

La técnica de los investigadores, llamada microscopía de fuerza de resonancia ferromagnética, detecta resonancia magnética en una muestra a través de cambios en la fuerza magnética entre la muestra y una punta magnética en voladizo. La técnica utiliza un campo externo de una antena de microondas cercana para excitar una resonancia magnética que hace que la magnetización de la muestra precese. tambaleándose como un trompo, miles de millones de veces por segundo. Esta precesión conduce a una pequeña disminución en la magnetización promediada en el tiempo que puede detectarse como un cambio en la fuerza magnética en el voladizo. Con un campo externo aplicado en el plano de la película, el modelado predice que se forma un "modo de borde" en el que la precesión se localiza dentro de los 30 nm del borde. Las mediciones recientes perfilaron ese modo de borde con una resolución récord de 100 nm. Al girar la dirección del campo aplicado, la ubicación del modo de borde se mueve a lo largo de la circunferencia del disco, con cambios en la resonancia magnética que trazan variaciones en las propiedades magnéticas a lo largo del borde.

Los investigadores creen que el desarrollo continuo de métodos de microscopía de fuerza de resonancia ferromagnética permitirá mediciones de nanodispositivos magnéticos individuales, proporcionando nueva información importante sobre las propiedades de estos dispositivos y sus posibles defectos.